La Microscopía de Fuerza Atómica permite caracterizar muestras de dimensiones nanométricas
CGP/DICYT Gerard Oncins y Jordi Díaz, pertenecientes a la Unidad de Técnicas Nanométricas de los Servicios Científico-técnicos de la Universidad de Barcelona, han presentado hoy en la Universidad de Valladolid las diferentes posibilidades que ofrece la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), una técnica revolucionaria utilizada en áreas de la ciencia que van desde la biología hasta la física del estado sólido. A la jornada, organizada en colaboración con el grupo de investigación Bioforge, ha asistido cerca de una veintena de científicos de diversas áreas.
La jornada está orientada a personas que no ha tenido contacto con el AFM, o que la han utilizado de forma esporádica, pero no son expertos y quieren conocer las diferentes posibilidades que ofrece esta técnica más allá del análisis topográfico. Como han detallado a DiCYT Gerard Oncins y Jordi Díaz, está dirigida a la comunidad científica en general que se dedica a la nanotecnología, puesto que la AFM supone “una de las herramientas más importantes que pueden utilizarse en esta rama”.
Así, el objetivo de la jornada es “dar a conocer estas técnicas y acercarlas a la gente”, ya que algunos científicos aún no conocen que están al alcance y que ofrecen medidas muy potentes. Además, el sistema tiene aplicaciones en campos “como la biología, la cosmética, la microelectrónica o la energía”, y en general para “el análisis de todo tipo de materiales, siempre a nivel superficial”.
“La AMF tiene aplicación en cualquier disciplina en la que intervengan estructuras muy pequeñas”, recuerdan, ya que la técnica permite la caracterización y la visualización de la topografía de las muestras a dimensiones nanométricas.
Visión general y casos prácticos
En primer lugar ha intervenido Gerard Oncins, quien ha dado una visión general de la técnica y ha explicado los diferentes modos de trabajo del AFM, entre ellos, un nuevo modo que analiza las propiedades mecánicas de las muestras in-situ a la par que se analiza la topografía. Este sistema permite hacer mapas de módulo de Young, de adhesión y de deformación de muestra de manera muy automática y con resultados semi-cuantitativos.
Por su parte, Jordi Díaz, responsable de la Unidad de Técnicas Nanométricas de la Institución académica catalana, se ha centrado en el análisis de casos prácticos abordados desde su unidad durante estos últimos años.